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JXA-8200电子探针--吉林大学

吉林大学

仪器简介:

 

英文名称:Electron Probe;
Electron Microprobe,全名为电子探针X射线显微分析仪,又名微区X射线谱分析仪。可对试样进行微小区域成分分析。除H、He、Li、Be等几个较轻元素 外,都可进行定性和定量分析。电子探针的大批量是利用经过加速和聚焦的极窄的电子束为探针,激发试样中某一微小区域,使其发出特征X射线,测定该X射线的 波长和强度,即可对该微区的元素作定性或定量分析。将扫描电子显微镜和电子探针结合,在显微镜下把观察到的显微组织和元素成分联系起来,解决材料显微不均 匀性的问题,成为研究亚微观结构的有力工具。

 

主要功能及应用:

 

观察样品的二次电子图像和背散射电子图像,分析样品元素成分和含量。

 

设备照片:

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仪器照片

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仪器原理

仪器的主要特性:

波谱探测范围:5B--- 92U
样品台尺寸:100mm*100mm*50mmH
加速电压:0.2-30kV
探针电流:10-12 to 10-5 A
探针电流稳定度:±0.5*10-3/h, ±3*10-3/12h
二次电子图像分辨率:6nm(WD 11mm)

仪器的主要附件:

牛津的EBSD.

设备基本信息:

仪器名称 JXA-8200电子探针
仪器型号 制造商 产地 购买年份 原值万元 负责人 联系电话 是否对外开放 可对外开放时间
JXA-8200 JEOL 日本 2007 350 徐丹 0431-85168881 200小时
安放地点 所在实验室 实验室地址 实验室类型
长春 超硬材料国家重点实验室 长春市前进大街2699号 国家重点实验室
收费标准 150元/小时
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